濕熱老化試驗用試驗箱適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產品、各種電子元器件，在高溫、低溫濕熱環(huán)境下的各項性能指標的檢驗。是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件中止耐寒、耐熱、耐干性實驗及品管工程的可靠性測試設備,特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產品的耐高溫、耐低溫循環(huán)實驗。

濕熱老化試驗用試驗箱的規(guī)格參數:

型號可選：LQ-TH-80/100/150/225/408/800/1000（ABCD）。

內箱尺寸可選(mm)寬*高*深 W*H*D ：400×500×400 mm/500×500×400 mm/500×600×500 mm/600×850×800 mm/1000×1000×800 mm//1000×1000×1000 mm。

溫度范圍可選:A：0℃～150℃/B：-20℃～150℃/；C：-40℃～150℃/；D：-70℃～150℃/（可任意調節(jié)）。

濕度范圍:20%~98%RH（行業(yè)標準型）。

升降溫速率：

RT<----->150℃ 約35分鐘（非線性空載，約3.0℃/分鐘）。

RT<----->-20℃ 約45分鐘（非線性空載，約1.0℃/分鐘）。

解析精度： 0.01℃。      

控制精度：≤±0.5℃。

均勻度：≦2.0℃。

電源功率：AC1￠3W 220V 50/60HZ或AC3￠5W380V 50/60HZ，功率電流視型號規(guī)格而定。